Profesor Críspulo Marmolejo expuso en seminario sobre metrología legal del INN del Ministerio de Economía

El profesor del Departamento de Derecho Económico y Tributario de la Escuela de Derecho de la Universidad de Valparaíso Críspulo Marmolejo expuso en el Segundo Seminario de Metrología Legal, que organizó el Instituto Nacional de Normalización (INN) en conjunto con el Ministerio de Economía.

La actividad se orientó a estudiar y analizar los aspectos más relevantes de la metrología y sus aspectos legales. La metrología puede ser entendida como la ciencia de las medidas y su aplicación. Esta incluye todos los aspectos teóricos y prácticos de las medidas, cualquiera que sea la incertidumbre de la medición y el campo de aplicación. Por su parte, la metrología legal comprende las prácticas y procesos de aplicación de las estructuras regulatorias y de ejecución a la metrología, según la define la Organización Internacional de la Metrología Legal.

El profesor Marmolejo presentó la ponencia titulada “Metrología legal para un comercio confiable”, la cual trató los aspectos conceptuales de esa disciplina y las relaciones que existen entre ella y el derecho de la regulación económica. Explicó el académico que “esta disciplina, que es poco conocida entre abogados, se ha vuelto cada vez más relevante en el ámbito de la discusión de políticas regulatorias y de normativas referidas a comercio internacional. Los pesos y medidas, las magnitudes de volumen y masa por ejemplo, influyen decisivamente en la forma como se determinan las cantidades de productos que se transan en mercados internacionales. Por otro lado, las reglas sobre calibración de complejos instrumentos técnicos que definen esas cantidades son sumamente relevantes para la determinación de la cosa vendida, del servicio prestado o del estándar que deben cumplir determinados bienes para ingresar a mercados internacionales. El derecho crecientemente se está preocupando de esta área”, afirmó el profesor Marmolejo.

Esta invitación fue cursada por el Instituto nacional de Normalización y especialmente por el físico especialista en metrología Francisco Javier García.

En la actividad participó también el expositor uruguayo Luis Mussio, representante del board de la Organización Internacional de Metrología Legal, y el mexicano Enrique Martínez.

La actividad se desarrolló con aportes del Fondo de Innovación para la Competitividad del Ministerio de Economía, Fomento y Turismo.

Publicado jueves 28 de diciembre de 2017
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